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光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法機(jī)械作用力

文章出處：責(zé)任編輯：氙燈試驗(yàn)箱廠家發(fā)表時間：2015-03-23

1、試驗(yàn)?zāi)康?/div>

研究試樣的光學(xué)、熱學(xué)、力學(xué)、化學(xué)和電學(xué)等特性受到機(jī)械作用力影響的變化程度。

2、引用標(biāo)準(zhǔn)

GB12085.1光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法術(shù)語、試驗(yàn)范圍

GB2423.5電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程Ea: 沖擊試驗(yàn)方法

GB2423.6電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程Eb: 碰撞試驗(yàn)方法

GB2423.15電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程Ga: 恒加速度試驗(yàn)方法

GB2423.7電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程Ec: 傾跌與翻倒試驗(yàn)方法

GB2423.8電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程Ed: 自由跌落試驗(yàn)方法

GB2423.10電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程Fc: 振動(正弦)試驗(yàn)方法

GB2423.11電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程Fd: 寬帶隨機(jī)振動試驗(yàn)方法一般要求

GB2423.13電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程Fdb: 寬帶隨機(jī)振動試驗(yàn)方法中再現(xiàn)性

3、條件試驗(yàn)

a.條件試應(yīng)方法30: 沖擊

條件試驗(yàn)方法30沖擊的嚴(yán)酷等級按表1，并優(yōu)先選用嚴(yán)酷等級02、03、05。試驗(yàn)采用半正弦沖擊波并在三個軸線方向均受到三次沖擊。

b.條件試驗(yàn)方法31: 碰撞

條件試驗(yàn)方法31碰撞的嚴(yán)酷等級按表2

c.條件試驗(yàn)方法32: 傾跌和翻倒

條件試驗(yàn)方法32傾跌和翻倒的嚴(yán)酷等級按表3

d.條件試驗(yàn)方法33:自由跌落

條件試驗(yàn)方法33自由跌落的嚴(yán)酷等級按表4.適用于在正常貯存條件下帶包裝的光學(xué)儀器，試樣跌落次數(shù)為2次。若要增加跌落次數(shù)則應(yīng)在有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中指明跌落次數(shù)，推薦選用的跌落次數(shù)為:10、20、50。

e.條件試驗(yàn)方法35:恒加速度條件試驗(yàn)方法35恒加速度的嚴(yán)酷等級.

4、有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)包括的內(nèi)容

a.環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記，

b.試樣數(shù)量，

C.條件試驗(yàn)方法30和31暴露的軸線和方向，

d.條件試驗(yàn)方法32給出傾斜的邊和試驗(yàn)次數(shù)，

e.條件試驗(yàn)方法33條件試驗(yàn)前后的包裝條件、試驗(yàn)次數(shù)及暴露的邊和角、表面數(shù)，

f.條件試驗(yàn)方法34待暴露的表面，

g.條件試驗(yàn)方法35試樣暴露的軸線，

h.條件試驗(yàn)方法36和37試樣暴露的軸線，

i.條件試驗(yàn)方法36對每個特性頻擎的暴露時間，適合成樣安裝部位的特性頻率，

j.預(yù)處理，